高光谱成像扫描和推扫成像传感器的主要区别

高光谱成像扫描是一种通过连续采集一系列波段条件下样品的二维图像，获取目标的空间特征和光谱信息的技术。它在每个特定波长下得到一幅二维图像，从而构建出三维高光谱图像块。这种方式可以获取丰富的光谱信息，用于识别和分析目标物体的物质组成。

推扫式成像传感器，例如SPOT HRV，使用线阵列的CCD元件作为探测器。在扫描过程中，由于使用线阵列探测器，它能瞬间同时得到垂直于航线的一条图像线，不需要用摆动的扫描镜，以“推扫”方式获取沿轨道的连续图像条带。

总的来说，高光谱成像扫描和推扫成像传感器的主要区别在于它们的数据采集方式和成像原理。高光谱成像扫描通过在不同波长下获取二维图像来构建三维高光谱图像，而推扫成像传感器则通过线阵列探测器以“推扫”方式获取连续图像条带。