探测器凝视时间

高光谱相机探测器的瞬时视场角扫过地面分辨单元的时间称为凝视时间，其大小为行扫描时间与每行像元数的比值。凝视时间越长，进入探测器的能量越多，光谱响应越强，图像的信噪比也就越高。推扫型成像光谱仪比摆扫型成像光谱仪的探测器凝视时间有很大提高。

在这项研究中，我们采用了一种高光谱相机，并改变了探测器凝视时间，探究了探测器凝视时间对成像性能的影响。我们首先采集了同一场景下的多组数据，每组数据的探测器凝视时间不同。然后，我们对这些数据进行了处理和分析，比较了不同探测器凝视时间下的成像性能。

结果表明，探测器凝视时间对高光谱相机的成像性能有显著影响。随着探测器凝视时间的增加，成像分辨率和信噪比都会得到显著提高。但是，当探测器凝视时间过长时，会出现光子饱和现象，导致成像精度下降。因此，需要合理选择探测器凝视时间，以达到最佳的成像性能。

我们还探究了探测器凝视时间对不同物体的成像性能的影响。结果表明，不同物体的成像性能受探测器凝视时间的影响不同。对于高反射率的物体，探测器凝视时间对成像性能的影响较小，而对于低反射率的物体，探测器凝视时间对成像性能的影响较大。

探测器凝视时间是影响高光谱相机成像性能的重要因素。在选择探测器凝视时间时，需要考虑物体的反射率和成像要求等因素，以达到最佳的成像效果。